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LGA芯片测试治具

李凯 | 5847 天前 18:12 | 阅读(720)
产品特点及性能参数：
※ 采用手动翻盖式结构，操作方便；
※ 产品通用程度高，只要换IC限位框，即可测试所有尺寸的LGA Flash IC
※ 上盖的IC压板采用特殊结构，下压平稳，保证IC的压力均匀，不移位；
※ 高精度的定位槽，保证IC定位精确，生产效率高；
※ 一次可测试16颗 Flash IC；IC与开关指示灯一一对应，IC好坏一目了然；
※ 芯邦，UT165，安国， SMI,NETWORK方案可互换！
※ 探针材料：铍铜(标准)；
※ 探针可更换，维修方便，成本低；※
※ 绝缘材料： Torlon、PEI、FR4等；
※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离）；
※ 交货快：最快一天内交货。
※ 可以定制TF卡1拖16的夹具/测试flash wafe的夹具！
产品服务：
※ 半年免费保修（人为损坏除外）。
※ 保修期外，免费维修，如果需换件，只收材料成本费。
※ 可以免费提供相关的技术支持。

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